貼片電容的老化是指EIA Class II電容器隨著時間推移電容量會下降。這對于用作電介質(zhì)材料的所有強(qiáng)電介質(zhì)來說是不可避免的自然現(xiàn)象。老化的過程是可逆的，電介質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)是隨溫度和時間的變化而發(fā)生變化。老化通常以指數(shù)形式的容値衰減率來描述。用對數(shù)來表示老化的變化率，因此容値的減小在前10個小時時是非常大的。

圖1 :電容老化特性

注：介電損耗因子（正切）也會老化，下降速率是電容値的幾倍。同時，EIA Class III和IV也具有老化特性。業(yè)界的老化定義可參照EIA-521和IEC-384-9中關(guān)于老化的“官方”定義。